EN
SKZ1062C Laserowy analizator wielkości cząstek metodą suchą i mokrą
Opis
SKZ1062C
Dwufunkcyjny analizator wielkości cząstek laserowych obsługujący zarówno metodę suchą, jak i mokrą
Oparty na teorii rozpraszania Mie z nieograniczonym odwracaniem dopasowania
Zakres pomiarowy: 0,1–600 μm
Dokładność i powtarzalność: < ±1 % (krajowy standard D50)
Laser gazowy He-Ne, λ = 0,6328 μm, czas pracy 25 000 godzin
Wysokoczuły system fotoelektrycznej detekcji z wielodetektorową macierzą
Nierównomierna macierz sektorów poprzecznych, maksymalny kąt detekcji 90°
Projekt optycznej ścieżki światła zbieżnego – szerszy zakres i wyższa rozdzielczość
Oprogramowanie PADMAS z 130 domyślnymi poziomami klasyfikacji, eksport do formatów EXCEL/PDF
Wymiary: urządzenie główne 1000 × 330 × 300 mm, każdy system wtryskowy 350 × 330 × 300 mm
Waga: 50KG
1. 【Elastyczność dwufunkcyjna】 Obsługa pomiaru metodą suchą i mokrą w jednym urządzeniu, zapewniając maksymalną elastyczność dla różnych typów próbek i wymagań badawczych. Zawiera zarówno system wtrysku suchego, jak i system wtrysku mokrego, stanowiąc kompleksowe rozwiązanie do analizy rozkładu wielkości cząstek.
2. 【Zaawansowana teoria rozpraszania Mie】 Oparta na pełnoskalowej teorii rozpraszania Mie z obliczeniami inwersji dopasowania bez ograniczeń. Nie zakłada żadnych wcześniejszych założeń dotyczących rozkładu cząstek, a dokładny rozkład wielkości cząstek obliczany jest bezpośrednio z danych intensywności światła, zapewniając rzeczywiste i obiektywne wyniki.
3. 【Szeroki zakres pomiarowy】 Zakres pomiarowy obejmuje 0,1–600 μm przy dokładności < ±1% i powtarzalności < ±1% (norma krajowa D50), co czyni urządzenie odpowiednim do szerokiego spektrum materiałów proszkowych – od cząstek drobnych do grubych.
4. 【Niezawodny laser gazowy He-Ne】 Wykorzystuje laser gazowy He-Ne o wysokiej stabilności z długością fali 0,6328 μm, krótką długością fali, wąską szerokością linii i doskonałą stabilnością. Czas życia przekracza 25 000 godzin, zapewniając stabilny sygnał źródła laserowego niezbędnego do uzyskiwania wiarygodnych danych pomiarowych.
5. 【Wysokoczuły system wykrywania fotoelektrycznego】 Charakteryzuje się wyjątkowym systemem wykrywania fotoelektrycznego o wysokiej czułości, obejmującym główny detektor oraz wiele detektorów pomocniczych. Trójwymiarowe, nieregularne ułożenie macierzy sektorowej zapewnia maksymalny kąt wykrywania wynoszący 90°, co umożliwia kompleksowe wykrywanie sygnałów.
6. 【Projekt optycznej ścieżki światła zbieżnego】 Zastosowano wyjątkowy projekt optycznej ścieżki światła zbieżnego z konfiguracją zakresu, który pozwala zmniejszyć liczbę soczewek Fouriera, zapewniając szerszy zakres pomiarowy, wyższą rozdzielczość oraz bezobsługową pracę ścieżki optycznej.
7. 【Mocne oprogramowanie analityczne PADMAS】 Obejmuje oprogramowanie PADMAS (Particle Diameter Measure & Analysis System) z funkcjami uśredniania, analizy statystycznej, porównywania oraz konwersji trybów przetwarzania. Obsługuje rozkład różnicowy, rozkład skumulowany, standardową klasyfikację, rozkład Rosina-Rammlera (RR), niestandardową klasyfikację oraz klasyfikację ilościową. Domyślnie dostępne jest 130 poziomów klasyfikacji w zakresie od 0,02 do 2000 mikronów z możliwością dostosowania opcji klasyfikacji.
8. 【Kompleksowe raporty testowe】 Raporty testowe zawierają wykresy rozkładu wielkości cząstek oraz tabele danych z parametrami charakterystycznymi, takimi jak D10, D50, D90, średnia wielkość cząstek oraz powierzchnia właściwa. Obsługiwane są cztery niestandardowe parametry. Stosunek powierzchniowy i stosunek objętościowy mogą być wzajemnie zamieniane. Dane można zapisać w formacie EXCEL.
9. 【Eksport w wielu formatach】 Obsługa drukowania raportów testowych w języku chińskim i angielskim z niestandardowymi nagłówkami i stopkami. Wykresy rozkładu wielkości cząstek oraz wykresy danych można zapisywać jako obrazy lub w formacie PDF, ułatwiając integrację z programem WORD i innymi aplikacjami.
10. 【Przyjazny interfejs użytkownika】 Przyjazny interfejs oprogramowania zapewnia przejrzyste odzwierciedlenie procesu testowania, natychmiastowe odświeżanie oraz monitorowanie w czasie rzeczywistym stanu pracy urządzenia. Przyciski operacji cyklu, ultradźwięków, mieszania i odprowadzania znajdują się na inteligentnej klawiaturze dotykowej, umożliwiając standardową, ilościową i prostą obsługę.
11. 【Szybka i standaryzowana obsługa】 Prosta obsługa może zostać opanowana w krótkim czasie; pełne dane testowe są dostępne w ciągu jednej minuty. Zmniejszone wymagania wobec operatora oraz skrócony czas testowania czynią urządzenie idealnym rozwiązaniem dla laboratoriów o wysokiej przepustowości.
12. 【Kompleksowe specyfikacje】 Wymiary urządzenia głównego: 1000 × 330 × 300 mm, wymiary każdego systemu dozowania: 350 × 330 × 300 mm, całkowita masa: 50 kg. Zasilanie: prąd przemienny 220 ± 10 V, 50 Hz, 200 W.
13. 【Szeroka zakres zastosowań】 Przydatne do analizy wielkości cząstek różnych proszków metalicznych i niemetalicznych, materiałów mineralnych, materiałów przemysłowych, produktów chemicznych i farmaceutycznych, żywności i produktów rolnych, powłok i barwników, surowców ceramicznych oraz nanomateriałów w wielu gałęziach przemysłu.
Specyfikacje
| SKZ21062A | SKZ21062A-1A | SKZ21062A-1B | SKZ21062A-2 | SKZ21062B | SKZ21062B-1 | SKZ21062C | SKZ21062C-1 | SKZ21062C-2 | |
| Metoda testu | Metoda mokra | Metoda mokra | Metoda mokra | Metoda mokra | Metoda sucha | Metoda sucha | Metoda sucha i mokra | Metoda sucha i mokra | Metoda sucha i mokra |
| Zakres testowy | 0,1–680 μm | 0,1–1250 μm | 0,01–1250 μm | 0,01–2600 μm | 0,1–680 μm | 0,1–1250 μm | 0,1–680 μm | 0,02–1250 mikronów (mokro), 0,1–1250 mikronów (sucho) | 0,02–2600 mikronów (mokro), 0,1–2600 mikronów (sucho) |
| Zastosowany zakres | Materiały budowlane, przemysł chemiczny, metalurgia, energetyka, przemysł spożywczy, elektronika, geologia, przemysł wojskowy, przemysł lotniczo-kosmiczny, maszynownictwo, uczelnie wyższe, laboratoria, instytuty badawcze itd. | ||||||||
| Zalety |
1. Zaawansowane zaprojektowanie ścieżki optycznej 2. Monitorowanie mocy lasera i automatyczna regulacja 3. W pełni zautomatyzowany test 4. Konstrukcja odporna na pył i wstrząsy 5. Projekt próbek bez pozostałości |
||||||||
