SKZ1061C

SKZ1061C 신속하고 정확함: 시험 시간 5–160초, 정확도 ±3% 범용성: 고체, 액체, 분말, 페이스트 모두 가능 비파괴 검사: 시료 재사용 가능 특별한 전처리 불필요: 매끄러운 표면만 있으면 됨 ISO 표준 준수, 터치스크린, 측정 범위 0.005–300 W/(m·K) 1. 【TP...

설명

SKZ1061C

빠르고 정확함: 5–160초 측정, ±3% 정확도

범용성: 고체, 액체, 분말, 페이스트 모두 가능

비파괴적: 시료 재사용 가능

특별한 전처리 없음: 매끄러운 표면이면 충분함

ISO 표준, 터치스크린, 측정 범위 0.005–300 W/(m·K)

1. 【TPS Transient Plane Source 기술】직접 측정 방식의 TPS 과도 평면 열원 기술로, 측정 시간은 5–160초(조절 가능)입니다.

2. 【열 접촉 저항 무관】열 접촉 저항의 영향을 받지 않아 정확한 측정 결과를 제공합니다.

3. 【특별한 시료 전처리 불필요】시료 전처리나 특정 형상 요구 사항 없음; 체적 고체의 경우 매끄러운 표면만 있으면 충분합니다.

4. 【다양한 두께의 시료 대응 샘플 스테이지】사용자 친화적인 샘플 스테이지로 다양한 두께의 시료를 수용할 수 있습니다.

5. 【ARM 마이크로프로세서, 빠르고 정확함】ARM 마이크로프로세서는 더 빠른 처리 속도와 정확한 측정 결과를 보장합니다.

6. 【다양한 시료 유형에 적합】고체, 페이스트, 과립, 겔, 액체, 분말, 코팅 및 얇은 필름을 측정할 수 있습니다.

7. 【0.005~300W/(m·K) 광범위한 범위】열전도율 측정 범위 0.005~300W/(m·K)는 단열재부터 고전도성 재료까지 포괄합니다.

8. 【주변 온도~130℃ 측정 가능】측정 온도 범위는 주변 온도에서 130℃까지로, 실제 작동 조건을 시뮬레이션합니다.

9. 【실제 성능을 반영하는 데이터】측정 데이터는 실제 환경에서의 성능을 반영하여 공학 설계를 지원합니다.

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사양

측정 방법	순시 평면 열원
시험 대상	고체, 액체, 분말, 페이스트, 젤, 입자
측정 범위	0.005--300W/(m*K)
표준	ISO 22007-2 2008
적용 범위	금속, 세라믹, 합금, 광물, 복합재료, 종이, 섬유, 폼(표면이 매끄러운 단열재, 판재), 광물 울, 시멘트 암석, 유리, 강화 복합판 CRC, 시멘트 폴리스티렌 보드, 타로, 흑연, 유리강 및 강판, 재료 복합판, 종이형 폼 플라스틱
장점	1. 시험 샘플의 범위가 매우 넓어 액체, 고체, 분말 형태의 샘플을 모두 사용할 수 있습니다. 2. 시험 시간이 짧아 최단 5초 만에 결과를 얻을 수 있습니다. 3. 시험이 편리하며, 시험 프로브를 이동시킬 수 있습니다.	1. 40~800℃의 광범위한 온도 범위(RT~1300℃는 SKZ1061C Pro 버전 기준) 2. 높은 정밀도(0.001) 및 우수한 반복성으로 안정적이고 신뢰성 높은 데이터 제공 3. 이중 시험 프로브와 고체/액체/분말 전용 홀더 탑재 4. 다수의 국가 표준 및 ISO 표준을 충족하며 초저전력 소비

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