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SKZ120F-2 卓上型分光光度計


SKZ120F-2 反射率・透過率測定対応の高精度卓上分光光度計/反射測定:D/8°、透過測定:D/0°光学系/7インチタッチスクリーン(Android OS搭載)/SCI/SCEを4秒未満で同時測定/2系統の独立光学系により…
商品説明

SKZ120F-2

反射・透過測定に対応した高精度卓上分光光度計

反射測定:D/8°(拡散照明、8°受光)、透過測定:D/0°(拡散照明、0°受光)

android OS搭載7インチタッチスクリーン

SCI/SCEを4秒未満で同時測定

長期安定性を実現する二重光学系

開放型透過測定エリアで、サンプルサイズに制限なし

蛍光材料対応のUV含む/除外モード

多様な用途に対応する27種類のオプションアクセサリ

1.【反射・透過両用のデュアル幾何学設計】反射測定にはD/8°(拡散照明、8°受光)、透過測定にはD/0°(拡散照明、0°受光)を採用。不透明材および透明材の両方を、一台の装置で正確に色測定できます。

2. 【二重光学経路による分光分析】 二重光学経路技術を採用し、測定データと内部環境基準データを同時に取得。周囲環境の変化があっても、優れた計測精度と長期的な安定性を確保します。

3. 【SCI/SCE同時測定】 CIE推奨のSCI(鏡面反射成分含む)およびSCE(鏡面反射成分除外)の両モードに対応。4秒未満で高速な同時測定が可能で、さまざまな産業分野における色差の包括的検出を実現します。

4. 【7インチタッチスクリーン(Android OS搭載)】 Androidオペレーティングシステムを搭載した7インチ回転式タッチスクリーンを採用。直感的なユーザーインターフェース、柔軟な操作性、簡単なデータ管理を提供します。画面の位置や向きは、各種試験方法に応じて自由に調整できます。

5. 【開放型透過率測定エリア】 試料サイズに制限がなく、大型または不規則な形状の透明材料も簡単に測定できる開放型透過率測定エリアを搭載。

6. 【充実したアクセサリーシステム】 透過率測定用加熱治具、垂直サポート、押し下げ式測定用空圧ラム、ファイバーサンプルホルダー、フィルム用治具など、標準アクセサリー15種類とオプションアクセサリー12種類を備える。この豊富なアクセサリー群により、ほぼあらゆる種類の材料に対応した測定が可能。

7. 【内蔵アクセサリードロワー】 アクセサリーの収納・保護に便利な専用ドロワーを内蔵。作業スペースを整理整頓し、小型部品の紛失を防ぐ。

8. 【交換式反射率アパーチャ】 試料サイズや測定要件に応じて口径を切り替えられる反射率アパーチャを採用し、試験の柔軟性を高める。

9. 【蛍光材料向け4種類のUVテストモード】プラスチック、繊維、紙などさまざまな業界での応用ニーズに対応するため、蛍光材料の測定に特化した4種類のUVテストモード(UVあり/なし)を搭載しています。

10. 【多方向測定対応】水平・垂直・下方測定(下方測定にはオプションアクセサリが必要)に対応しており、さまざまな試料形状や測定シーンに最大限の柔軟性を提供します。

11. 【カメラビューと自動補正機能】内蔵カメラにより、測定領域を確認しながら試料を正確に位置決めできます。また、湿度および温度の自動補正機能により、異なる環境条件下でも安定した性能を維持します。

12. 【広帯域波長範囲と高分解能】波長範囲は360~780nm(ピッチ10nm、半値幅5nm)、反射率範囲は0~200%(分解能0.01%)で、きめ細かく高精度な色分析が可能です。

13. 【複数のインターフェース対応】USB、USB-B、RS-232インターフェースを搭載し、PCやプリンターなどさまざまな機器への柔軟な接続を実現。データ出力やシステム連携が容易です。

14. 【幅広い応用分野】プラスチック板、粉体、石油・油脂、繊維・糸、マスターバッチ・ペレット、印刷インク、包装材、ガラス、塗料などの色および透過率測定に最適です。実験室における色分析、品質管理、業種を問わない色情報の共有など、多様な産業で広く活用されています。

仕様
センサー シリコン光電池アレイ
波長 360~780nm
照明/観測方式

反射:d/8(拡散照明、8度観測)

透過:d/0(拡散照明、0度観測)

光源 パルスキセノンランプおよびLED
規格 SCI/SCE(ISO 7724-1、CIE No.15、ASTM E1164、ASTM D1003-07、DIN 5033 Teil 7、JIS Z 8722 条件C準拠)
適用範囲 実験室での色分析および色情報の共有に使用されます。
メリット

1. 不透明および透明な素材の両方を測定できる、反射率測定用D/8°方式および透過率測定用D/0方式を採用。

2. 二重光学系分光分析技術

3. SCI/SCE測定に対応。SCI+SCE同時測定も可能

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